福祿克測試出現(xiàn)負損耗(DSX5000,DTX-1800)
福祿克為什么測試結果會出現(xiàn)“負損耗”?常見型號有,DSX-5000加上CFP-100-Q,DTX-1800加上單模模塊DTX-SFM2或者多模模塊DTX-MFM2。
負損耗表示光纖鏈路不光沒有損耗,反而還有“增益”—當然這是不真實的。主要原因來自于以下各種偏差和誤差。
其一,在光源端口,光能量不都是 100%射入測試跳線中的,其“耦合效率”的高低與端口結構的幾何尺寸和幾何偏差有關,且與測試跳線插頭的幾何尺寸的“偏差”也有關。所以,歸零以后一般不允許再插拔測試跳線,否則會破壞端口耦合效率,如若不小心拔出了跳線,則必須重新歸零,只有這樣才能避免增大測試誤差。對短鏈路而言,歸零后插拔端口跳線會令損耗增加或“減少”—這導致出現(xiàn)測試結果為“負損耗”的現(xiàn)象。
其二,如果歸零時跳線端面附著有纖維屑或灰塵,但歸零后脫落,也可能會出現(xiàn)“負損耗”。
第三,開機未預熱就歸零,因儀器工作參數(shù)漂移而出現(xiàn)“負損耗”。一般建議預熱5 分鐘,溫差較大時應預熱 10 分鐘。
第四,歸零時跳線插拔不到位(損耗偏大)。
第五,如果歸零用的耦合器本身偏差較大(比如軸向對準偏差較大),則歸零后測試短鏈路時也可能會出現(xiàn)負損耗。
第六,劣質測試跳線或跳線本身不穩(wěn)定。
本文關鍵字: CFP-100-Q, DSX-5000, dtx1800ms, Fluke, 福祿克, 福祿克測試, 負損耗
原創(chuàng)標題:福祿克測試出現(xiàn)負損耗(DSX5000,DTX-1800)
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