光纖參考值的設(shè)置-福祿克小編
今天這篇文章福祿克小編給大家介紹光纖測(cè)試過程中,光纖參考值的設(shè)置。
很多工程測(cè)試中可能用到的方法就一種,現(xiàn)在給大家介紹A,B,C測(cè)試方法。
根據(jù)ANSI/TIA/EIA-526-14A標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試多模光纜鏈路的損耗,有兩種測(cè)試方法:方法A和方法B。
我們根據(jù)不同的應(yīng)用,在測(cè)試時(shí),使用不同的方法來設(shè)置參考值。
一般一條光纖鏈路由光纜、連接器和跳線組成。在測(cè)試中,一般認(rèn)為跳線造成的損耗可以忽略不計(jì),因此主要測(cè)試的目標(biāo)為光纜以及鏈路中所包含的連接器所造成的損耗。
方法A所針對(duì)的光纜鏈路,其全部的衰減主要是由光纜和一個(gè)光配線架上的連接器所造成的,?這種測(cè)試方法,使用兩條用戶連接光纜和一個(gè)連接適配器連接至被測(cè)的光纜鏈路。兩條連接光纜和一個(gè)連接適配器作為參考值在測(cè)試中被排除。測(cè)試結(jié)果包括了被測(cè)光纜鏈路的損耗以及一個(gè)連接器的損耗。
這種光纖鏈路結(jié)構(gòu),主干上比較多見。
方法B
在這種鏈路結(jié)構(gòu)中,兩個(gè)配架連接器的損耗是整個(gè)鏈路損耗的重要部分,因此比較適合室內(nèi)光纜的測(cè)試。它在設(shè)置參考值時(shí)使用一條連接光纖測(cè)試每條光纜鏈路。
在這種方法中,實(shí)際測(cè)試結(jié)果還包括了一根額外的連接光纖,但是其長(zhǎng)度非常短,可以忽略不計(jì)。由于這種測(cè)試方法包括了光纜本身和兩端連接器,是比較精確的光纜鏈路測(cè)試。也是我們?cè)跍y(cè)試中用的最多的一種測(cè)試方法。
隨著SFF連接器的流行,測(cè)試儀器所帶的測(cè)試跳線和鏈路連接器接口不匹配的現(xiàn)象越來越普遍,因此我們現(xiàn)在推薦一種改進(jìn)的方法B。它既能保持原來的精度(每次測(cè)量都包括光纜以及兩端的連接器),又避免了其在測(cè)試SFF連接器時(shí)的缺陷。它在參考設(shè)置時(shí)使用兩條連接光纖和一個(gè)連接器進(jìn)行,結(jié)構(gòu)類似于方法A,但在測(cè)試時(shí)包括了額外的帶連接器的一條短小的測(cè)試跳線。
改進(jìn)的方法B所得到的損耗測(cè)試結(jié)果和ANSI/TIA/EIA-526-14A定義的方法B的結(jié)果是一致的,測(cè)試的鏈路比設(shè)置參考值時(shí)多兩個(gè)額外的適配器,測(cè)試結(jié)果包括了光纜的損耗和鏈路兩端連接器的損耗,這個(gè)損耗值是網(wǎng)絡(luò)實(shí)際硬件應(yīng)用中所遇到的值。
這種方法可以使用不同類型的連接光纖連接測(cè)試儀和被測(cè)光纜鏈路,這對(duì)于現(xiàn)在越來越流行的微型連接器(SFF)的測(cè)試非常有用。使用這種方法,不需要在測(cè)試儀器端斷開連接光纜,從而減少了可能由于重新插入所導(dǎo)致的污染誤差或損壞測(cè)試儀器的光接口。
方法C
對(duì)于發(fā)射器和接收器直接通過光纜連接的鏈路結(jié)構(gòu),我們需要使用如下連接方法,用3根用戶跳線和兩個(gè)連接器設(shè)置參考值,跳線和連接器造成的損耗被扣除掉,測(cè)試的就是光纜造成的直接損耗了。這種方法多用了一根跳線,但由于跳線的損耗一般都被忽略不計(jì)的,因此這根多余的跳線認(rèn)為不對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響。
測(cè)試時(shí),需要注意以下幾點(diǎn):
1.當(dāng)從設(shè)置參考值轉(zhuǎn)換至測(cè)試設(shè)置時(shí),需要將測(cè)試儀一端的連接光纜斷開,這時(shí)要注意不要斷開輸出或光源一端。如果斷開該連接,原來設(shè)置的參考值就失去意義了,不重新進(jìn)行參考設(shè)置就會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)試的結(jié)果。
2.在從測(cè)試儀測(cè)試(輸入)端斷開連接光纖時(shí)要非常小心,避免接頭處受到污染或測(cè)試儀器受到損壞。
3.測(cè)試儀器的連接器必須和被測(cè)光纜的連接器相同。
4.測(cè)試帶SFF連接器的光纖時(shí)應(yīng)使用改進(jìn)的方法B,并使用專門的從SFF到傳統(tǒng)接口的轉(zhuǎn)接跳線。
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原創(chuàng)標(biāo)題:光纖參考值的設(shè)置-福祿克小編
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