專注福祿克測(cè)試儀銷售與技術(shù)

熱門關(guān)鍵詞搜索: DSX-5000 DTX-1800 1T-1000 DSX-8000 MS2-100 查線儀 Aircheck G2 FTK1000 LRAT-2000

fluke-bz fluke-fx
123

福祿克測(cè)試時(shí)光纖損耗過大的因素-熔接篇

發(fā)布日期:2013年11月06日   瀏覽次數(shù):37次   編輯:深圳連訊

通過深圳連訊達(dá)測(cè)試工程部發(fā)來的反饋,我們?cè)谟酶5摽?span id="u0u09u4" class='wp_keywordlink'>DTX-1800MS或者OptiFiber PRO進(jìn)行光纖測(cè)試的時(shí)候,最大的問題往往是光纖衰減通不過,那影響光纖衰減通不過的主要問題有哪些呢?讓我們一起來看看深圳連訊達(dá)總結(jié)的經(jīng)驗(yàn)。

1.影響光纖熔接損耗的主要因素:

影響光纖熔接損耗的因素較多,大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。1.光纖本征因素是指光纖自身因素,主要有四點(diǎn)。

(1)光纖模場(chǎng)直徑不一致;


(2)兩根光纖芯徑失配;


(3)纖芯截面不圓;


(4)纖芯與包層同心度不佳。


其中光纖模場(chǎng)直徑不一致影響最大,按CCITT(國際電報(bào)電話咨詢委員會(huì))建議,單模光纖的容限標(biāo)準(zhǔn)如下:

模場(chǎng)直徑:(9~10μm)±10%,即容限約±1μm;


包層直徑:125±3μm;


模場(chǎng)同心度誤差≤6%,包層不圓度≤2%。

 


2.影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術(shù)。

(1)軸心錯(cuò)位:?jiǎn)文9饫w纖芯很細(xì),兩根對(duì)接光纖軸心錯(cuò)位會(huì)影響接續(xù)損耗。當(dāng)錯(cuò)位1.2μm時(shí),接續(xù)損耗達(dá)0.5dB。


(2)軸心傾斜:當(dāng)光纖斷面傾斜1°時(shí),約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗,如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB,則單模光纖的傾角應(yīng)為≤0.3°。


(3)端面分離:活動(dòng)連接器的連接不好,很容易產(chǎn)生端面分離,造成連接損耗較大。當(dāng)熔接機(jī)放電電壓較低時(shí),也容易產(chǎn)生端面分離,此情況一般在有拉力測(cè)試功能的熔接機(jī)中可以發(fā)現(xiàn)。


(4)端面質(zhì)量:光纖端面的平整度差時(shí)也會(huì)產(chǎn)生損耗,甚至氣泡。


(5)接續(xù)點(diǎn)附近光纖物理變形:光纜在架設(shè)過程中的拉伸變形,接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等,都會(huì)對(duì)接續(xù)損耗有影響,甚至熔接幾次都不能改善。

3.其他因素的影響。


接續(xù)人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機(jī)中電極清潔程度、熔接參數(shù)設(shè)置、工作環(huán)境清潔程度等均會(huì)影響到熔接損耗的值。

如需要購買光纖測(cè)試儀產(chǎn)品,請(qǐng)聯(lián)系連訊達(dá)公司。DTX-1800MS,DTX-1200MS特價(jià)銷售中!


更多



本文關(guān)鍵字: , , ,
原創(chuàng)標(biāo)題:福祿克測(cè)試時(shí)光纖損耗過大的因素-熔接篇
原文鏈接:http://m.qqmmqq.cn/archives/fiber-loss-welding.html
版權(quán)說明:本文為深圳市連訊達(dá)電子技術(shù)開發(fā)有限公司官網(wǎng)(m.qqmmqq.cn)版權(quán)所有。如果您需要轉(zhuǎn)載,請(qǐng)注明出處并保留原文鏈接!如為轉(zhuǎn)載文章會(huì)注明文章出處,轉(zhuǎn)載文章不代表本公司觀點(diǎn)。對(duì)于某些同行無恥惡意抄襲剽竊連訊客戶案例的違法行為,連訊將追究法律責(zé)任!
詳情請(qǐng)致電連訊公司:0755-83999818

福祿克FLuke DSX-5000線纜測(cè)試儀 福祿克FLuke DTX-1800線纜測(cè)試儀 福祿克FLuke Onetouch AT網(wǎng)絡(luò)分析儀 福祿克FLuke OptiFiber PRO光纖測(cè)試儀
  • dtx系列測(cè)試儀新一代中文手持式測(cè)試儀 – 省時(shí)省力。
  • -9秒完成6A類認(rèn)證測(cè)試
  • -銅纜、光纖測(cè)試一鍵切換
  • -出色的智能故障診斷能力
  • -具有1000MHz的測(cè)試帶寬
  • -超越Cat 5e/6/6A/7類的規(guī)格要求
  • dtx系列測(cè)試儀新一代中文手持式測(cè)試儀 – 省時(shí)省力。
  • -9秒完成6類認(rèn)證測(cè)試
  • -銅纜和光纖測(cè)試一鍵切換
  • -出色的智能故障診斷能力
  • -具有900MHz的測(cè)試帶寬
  • -超越Cat 5e/6類的規(guī)格要求
  • dtx系列測(cè)試儀新一代手持式網(wǎng)絡(luò)分析儀 – 省時(shí)省力。
  • -一鍵網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)化測(cè)試
  • -支持自定義測(cè)試腳本設(shè)置
  • -出色的智能故障診斷能力
  • -具有數(shù)據(jù)捕獲和性能測(cè)試
  • -全面支持國標(biāo)GB/T21671
  • dtx系列測(cè)試儀新一代快速OTDR測(cè)試儀 – 省時(shí)省力。
  • -首創(chuàng)智能手機(jī)界面的 OTDR
  • -業(yè)界最短事件和衰減死區(qū)
  • -支持自定義項(xiàng)目文件夾
  • -支持?jǐn)?shù)據(jù)中心測(cè)試模式
  • -強(qiáng)大事件和曲線分析能力