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福祿克測(cè)試時(shí)光纖損耗過大的因素-熔接篇

發(fā)布日期：2013年11月06日   瀏覽次數(shù)：37次   編輯：深圳連訊

通過深圳連訊達(dá)測(cè)試工程部發(fā)來的反饋，我們?cè)谟酶５摽?span id="u0u09u4" class='wp_keywordlink'>DTX-1800MS或者OptiFiber PRO進(jìn)行光纖測(cè)試的時(shí)候，最大的問題往往是光纖衰減通不過，那影響光纖衰減通不過的主要問題有哪些呢？讓我們一起來看看深圳連訊達(dá)總結(jié)的經(jīng)驗(yàn)。

1.影響光纖熔接損耗的主要因素：

影響光纖熔接損耗的因素較多，大體可分為光纖本征因素和非本征因素兩類。1．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點(diǎn)。

（1）光纖模場(chǎng)直徑不一致；

（2）兩根光纖芯徑失配；

（3）纖芯截面不圓；

（4）纖芯與包層同心度不佳。

其中光纖模場(chǎng)直徑不一致影響最大，按CCITT(國際電報(bào)電話咨詢委員會(huì))建議，單模光纖的容限標(biāo)準(zhǔn)如下：

模場(chǎng)直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；

包層直徑：125±3μm；

模場(chǎng)同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。

 

2．影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術(shù)。

（1）軸心錯(cuò)位：?jiǎn)文９饫w纖芯很細(xì)，兩根對(duì)接光纖軸心錯(cuò)位會(huì)影響接續(xù)損耗。當(dāng)錯(cuò)位1.2μm時(shí)，接續(xù)損耗達(dá)0.5dB。

（2）軸心傾斜：當(dāng)光纖斷面傾斜1°時(shí)，約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗，如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應(yīng)為≤0.3°。

（3）端面分離：活動(dòng)連接器的連接不好，很容易產(chǎn)生端面分離，造成連接損耗較大。當(dāng)熔接機(jī)放電電壓較低時(shí)，也容易產(chǎn)生端面分離，此情況一般在有拉力測(cè)試功能的熔接機(jī)中可以發(fā)現(xiàn)。

（4）端面質(zhì)量：光纖端面的平整度差時(shí)也會(huì)產(chǎn)生損耗，甚至氣泡。

（5）接續(xù)點(diǎn)附近光纖物理變形：光纜在架設(shè)過程中的拉伸變形，接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等，都會(huì)對(duì)接續(xù)損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。

3．其他因素的影響。

接續(xù)人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機(jī)中電極清潔程度、熔接參數(shù)設(shè)置、工作環(huán)境清潔程度等均會(huì)影響到熔接損耗的值。

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原創(chuàng)標(biāo)題：福祿克測(cè)試時(shí)光纖損耗過大的因素-熔接篇
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