福祿克FLUKE CFP2-100-Q CH光纖測試儀遇到的光纖端面問題
我們在用福祿克CFP2-100-Q CH在測試過程經(jīng)常會遇到的問題,今天為大家分享一個小知識——光纖的端面。在本期內(nèi)容中,我們將主要討論以下這幾個知識點:光纖端面的類型、注意事項以及損耗限值。
光纖端面的類型,是隨著研磨技術的不斷發(fā)展而變化的,從最初的平面研磨、球面研磨、到斜球面研磨。研磨技術的不斷精細,使光纖通過耦合器連接時的反射和損耗大幅度降低,從而使光纖在進行長距離高速數(shù)據(jù)傳輸時發(fā)揮其絕對優(yōu)勢。
研磨技術的更新,其目的就是減少光纖在連接點的反射和損耗,大家都知道,光纖的反射和損耗主要是因為折射率的變化引起的,所以光纖鏈路損耗主要來自于連接點,減少光纖連接之間的空隙,從而降低光纖鏈路的反射和損耗,是光纖技術一直追求的目標。
接下來我們將為大家講解各個端面。
01、PC球面研磨
首先是PC球面研磨,通過這張圖片我們可以清楚的看到,光纖的物理接觸面是球面的,這樣做的好處是相對于平面研磨接觸,減少了光纖接觸的縫隙,也相對減少了在連接點的反射和損耗,因為平面研磨做工再好也會有間隙,反射和損耗值會非常大。
02、UPC超球面研磨
我們再來說一下UPC超球面研磨,它在PC球面研磨的基礎上,使用多個等級拋光光纖端面,將連接頭的接觸面設計為凸起,在連接時物理接觸會更為緊密,更為可靠,反射值進一步降低。
03、APC斜球面研磨
隨著40G/100G應用的使用,對于光纖鏈路的反射要求變得更高,APC斜球面研磨應運而生。從圖中可以看出,它的端面設計為斜8°C角,這樣的設計會使光纖的反射值更小,什么原因呢?
PC/UPC研磨產(chǎn)生的反射會原路返回,對有用的光信號產(chǎn)生干擾,而APC研磨,由于端面是斜8°c角的原因,反射的光直接進入包層,從而消失,不會對鏈路中的光信號產(chǎn)生干擾,非常有效的減少反射值。
大家看看上圖中這個斜八度角,不知道大家有沒有想到什么呢?那我問一個小問題了,APC端面的光纖是否可以和UPC端面的光纖混接呢?
本文關鍵字: CFP2-100-Q CH, Fluke, 光纖測試儀, 光纖端面, 福祿克
原創(chuàng)標題:福祿克FLUKE CFP2-100-Q CH光纖測試儀遇到的光纖端面問題
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