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環(huán)形通量 —它是什么？

隨著 LC/MPO 盒之類低損耗光纖組件的推廣應(yīng)用，損耗預(yù)算（測試限制）變得越來越小。這樣一來，安裝商會發(fā)現(xiàn)以前進(jìn)行光線測試的方法和假設(shè)不再適用。

雖然電信工業(yè)協(xié)會 (TIA) 依舊允許每個連接器的衰減為 0.75 dB，但工廠拋光連接器的衰減接近 0.2 dB。因此，在測試 TIA 極限值時，安裝商面對諸多的不確定性。換句話說，他們的測試實踐需要合理化，而不求完美。

然而，咨詢?nèi)藛T和布線供應(yīng)商現(xiàn)在都開始根據(jù)組件性能而不是標(biāo)準(zhǔn)精確計算損耗預(yù)算。測試實踐中的允許公差已不存在。為了與時俱進(jìn)，安裝商需要重新評估他們的光纖測試儀設(shè)備和程序。

通過艙壁接合器設(shè)置基準(zhǔn)不再是可有可無，而必須運(yùn)用一條基準(zhǔn)測試線（1 個跳接）保持從源到儀表的基準(zhǔn)。進(jìn)行某些設(shè)置時，需要對新的測試設(shè)備進(jìn)行投資并提供一些必要相關(guān)培訓(xùn)。

測試基準(zhǔn)線也必須配備基準(zhǔn)等級連接器，ISO/IEC 14763-3將其定義為在多種模式下=0.1 dB，在單一模式下 =0.2 dB。當(dāng)?shù)蛽p耗盒配備 0.15 dB LC 連接器時，若使用任何不及 0.15 dB 的 LC 連接器進(jìn)行測試，結(jié)果將不容樂觀或者可能失敗。

當(dāng)許多安裝商正競相調(diào)整和優(yōu)化他們的測試程序時，在本篇文章的最后部分將介紹降低測量不確定性的方法，您可能已經(jīng)聽說過。它稱作環(huán)形通量 (EF)。

如果兩個技術(shù)人員使用帶基準(zhǔn)等級連接器及心軸的相同基準(zhǔn)測試線，但采用兩種不同的光源，那么可能會出現(xiàn)兩種不同的讀數(shù)。我們從 ISO/IEC 14763-3在測量不確定性方面所做的工作了解到，使用相同的源能夠?qū)⑺p度限制在 +/- 0.09 dB 范圍內(nèi)。

這便是光纖測試的性質(zhì)。光纖連接被認(rèn)為是隨機(jī)的，這是配備基準(zhǔn)等級連接器非常重要的原因。然而，如果您當(dāng)時使用兩個不同的光源，即使您已經(jīng)對它們做出了調(diào)整，也會出現(xiàn)額外的不確定性。這一不確定性是由光射入光纖的方式導(dǎo)致的。

很多年前，雖然有時被稱為耦合效率 (CPR)，TIA 還是嘗試這一發(fā)射概念定義。那是一個很好的嘗試，但源之間的發(fā)射依然存在太多的可變性。因此，在2010中， TIA 和 IEC 創(chuàng)建了 EF，以便進(jìn)一步限制發(fā)射條件。

關(guān)于那些插入標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字的排列，您需要留意針對 EF 的 ANSI/TIA-526-14-B 或 IEC61280-4-2 （它們是相同的文檔）。缺失這個標(biāo)準(zhǔn)即是如何在這一領(lǐng)域進(jìn)行實施。很多人認(rèn)為，這是屬于實驗室的要求，因為目前在這一領(lǐng)域的實施狀況并不理想。

為此， TIA 正致力于解決 TIA-TSB-4979 的實際問題，以實現(xiàn)這一領(lǐng)域多模發(fā)射的條件。電信系統(tǒng)公告介紹了兩種方法。一種是使用替代心軸的模式調(diào)節(jié)器，這種方法不太令人滿意（而且成本不菲）。另外一種方法是配備剔除了多余模式設(shè)備的 EF 兼容源。

EF 兼容似乎將成為接下來一年許多測試規(guī)范的需求，因此，安裝商可能會關(guān)注這一領(lǐng)域的發(fā)展。