福祿克光纖測試:提高多模光纜衰減測試能力的最有效辦法-發(fā)射卷軸
福祿克光纖測試:提高多模光纜衰減測試能力的最有效辦法-發(fā)射卷軸
???? ?根據(jù)美國TIA/EIA-568B?標(biāo)準(zhǔn),在現(xiàn)場測試多模光纜時,必須使用卷軸(Mandrel)。因為它可以利用普通的LED?型散射面廣的光源用來認(rèn)證62.5 m?和?50 m?多模光纜是否可以支持千兆甚至萬兆以太網(wǎng)。高層次和低層次的模式
????多模光纜的特點是在光纖上會同時載有多個光路徑。這些路徑,有些是匯聚在光纜的中心部分(“低層次”模式),有些卻在光纜傳輸部分的邊緣彈跳著(“高層次”模式)。
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?????“高層次”模式由于光纜鏈路的弧度變化和制造特性,會出現(xiàn)由于衰減造成的測試結(jié)果重復(fù)性低的特點。相對來說,”低層次”模式的光一般比較穩(wěn)定。在測試時,需要用一個能發(fā)出“低層次”光的光源,這會讓測試結(jié)果更精確和更有重復(fù)性??梢杂脙煞N方法實現(xiàn):?
??▲用一個只會發(fā)出”低層次”模式光,如VCSEL激光的光源。?
??▲用一個普通的光源(發(fā)出”高層次”和”低層次”模式的),加上一個可以刪除“高層次”光的外設(shè)調(diào)節(jié)設(shè)備。
發(fā)射卷軸
?????發(fā)射卷軸的原理是通過多個大弧度,把“高層次“模式的光消耗掉。下面的圖形顯示了如何通過外設(shè)調(diào)節(jié)設(shè)備,如“發(fā)射卷軸”,讓一個普通的光源(發(fā)出”高層次”和”低層次”模式的)可以模擬VCSEL光源只發(fā)出“低層次”光的特性。
上圖依次為:
?VCSEL?光源
??普通多模光源
??普通多模光源配上發(fā)射卷軸
福祿克網(wǎng)絡(luò)的光纜測試系列和發(fā)射卷軸
?????福祿克網(wǎng)絡(luò)提供多種光纜測試工具。最受歡迎的DSP-4000,DTX-1800?系列線纜認(rèn)證分析儀,?除了配有多模和單模的光纜測試適配器外,還有配有VSCEL?光源的光纜測試適配器,可以直接認(rèn)證光纜是否滿足千兆以太網(wǎng)的要求。
????如果只需要光衰減值,可以選擇經(jīng)濟的SimpliFiber。SimpliFiber?的光表,可以自動識別光源發(fā)出的波長,如850nm?或1300nm。在測試時不會因為設(shè)置錯誤引起誤判,延誤工程或診斷效率??梢源鎯?/span>100個測試結(jié)果。
?????福祿克網(wǎng)絡(luò)為以上測試儀提供兩個滿足TIA-568B?要求的支持業(yè)內(nèi)最常用的3mm?光纜的發(fā)射卷軸:對于50微米的光纜是22mm?的發(fā)射卷軸,對于62.5微米的光纜是17mm?發(fā)射卷軸。當(dāng)用發(fā)射卷軸時,必須從校準(zhǔn)時開始,直到測試完畢后才可拆除。
校準(zhǔn)測試設(shè)備
本文關(guān)鍵字: 光纖測試, 多模卷軸
原創(chuàng)標(biāo)題:福祿克光纖測試:提高多模光纜衰減測試能力的最有效辦法-發(fā)射卷軸
原文鏈接:http://m.qqmmqq.cn/archives/fluke_711.html
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