主要講述是附錄 C光纖鏈路測試方法
C.0.1 測試前應(yīng)對(duì)所有的光連接器件進(jìn)行清洗，并將測試接收器校準(zhǔn)至零位。
C.0.2 測試應(yīng)包括以下內(nèi)容：
1 在施工前進(jìn)行器材檢驗(yàn)時(shí)，一般檢查光纖的連通性，必要時(shí)宜采用光纖損耗測試儀(穩(wěn)定光源和光功率計(jì)組合)對(duì)光纖鏈路的插入損耗和光纖長度進(jìn)行測試。
2 對(duì)光纖鏈路(包括光纖、連接器件和熔接點(diǎn))的衰減進(jìn)行測試，同時(shí)測試光跳線的衰減值可作為設(shè)備連接光纜的衰減參考值，整個(gè)光纖信道的衰減值應(yīng)符合設(shè)計(jì)要求。
C.0.3 測試應(yīng)按圖 C.0.3 進(jìn)行連接。
1 在兩端對(duì)光纖逐根進(jìn)行雙向(收與發(fā))測試，連接方式見圖 C.0.3。
注：光連接器件可以為工作區(qū) TO、電信間FD、設(shè)備間 BD、CD 的SC、ST、sFF連接器件。
2 光纜可以為水平光纜、建筑物主干光纜和建筑群主干光纜。
3 光纖鏈路中不包括光跳線在內(nèi)。
C.0.4 布線系統(tǒng)所采用光纖的性能指標(biāo)及光纖信道指標(biāo)應(yīng)符合設(shè)計(jì)要求。不同類型的光纜在標(biāo)稱的波長，每公里的最大衰減值應(yīng)符合表C.0.4 的規(guī)定。
表 C.0.4 光纜衰減
最大光纜衰減(dB／km)
項(xiàng)目 ?OM1，OM2 及 OM3 多模 ?OSl單模?波長 ?850 nm ?1300 nm ?1310 nm ?1550 nm
衰減 ?3.5 ?1.5 ?1.0 ?1.0
C.0.5光纜布線信道在規(guī)定的傳輸窗口測量出的最大光衰減(介入損耗)應(yīng)不超過表C.0.5的規(guī)定，該指標(biāo)已包括接頭與連接插座的衰減在內(nèi)。
表 C.0.5 光纜信道衰減范圍
最大信道衰減(dB)?單模
多模?級(jí)別?1310nm ?1550rim ?850nm ?1300nm
OF-300 ?1.80 ?1.80 ?2.55 ?1.95
OF-500 ?2.00 ?2.00 ?3.25 ?2.25
OF-2000 ?3.50 ?3.50 ?8.50 ?4.50
注：每個(gè)連接處的衰減值最大為 1.5 dB。
C·0.6光纖鏈路的插入損耗極限值可用以下公式計(jì)算：
光纖鏈路損耗=光纖損耗+連接器件損耗+光纖連接點(diǎn)損耗 ? ?(C.0.6—1)
光纖損耗=光纖損耗系數(shù)(dB／km)×光纖長度(km) ? ?(C.0.6—2)
連接器件損耗=連接器件損耗／個(gè)×連接器件個(gè)數(shù) ? ?(C.0.6-3)
光纖連接點(diǎn)損耗=光纖連接點(diǎn)損耗／個(gè)×光纖連接點(diǎn)個(gè)數(shù) ? ?(C.0.6-4)
表 C.0.6 光纖鏈路損耗參考值
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