所需測試的參數(shù)與應用的測試標準有關
Wire Map接線圖(開路/短路/錯對/串繞)u Length長度
Propagation Delay傳輸時延u Delay Skew 時延偏離
Insertion Lose插入損耗/Attenuation衰減u NEXT近端串擾
PS NEXT 綜合近端串擾u Return Loss 回波損耗
ACR-N 近端衰減串擾比
ACR-F 遠端衰減串擾比
PS ACR-F 綜合遠端衰減串擾比
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1、插座測試的次數(shù)。
2、插座的保修期。
3、通道的保修期。
1。小心使用15000次,粗糙使用5000此甚至更低。一般是事先保存一根比對跳線,過一段時間以后看看比對跳線的參數(shù)是否飄移過多,以此決定是否更換。
2。這是易損件,只保修3個月或5000次(模塊自身有計數(shù))。如果明顯因水晶頭尺寸過大造成傷害(外觀上能看出來),則不予保修。
3、通道測試模塊與此相同。
現(xiàn)在大多數(shù)工程驗收都是采用DTX-1800或者DTX-1200及以前的老型號DSP系列加通道測試的測試方法,我們可以得知從分析看來這樣并不可靠,最可靠的測試方法是FLUKE DTX 系列(例如:DTX-1800)通道測試方法加上跳線適配器測試。這樣就能得到有效的保證。
關于通道測試的設置方法可以聯(lián)系深圳連訊達FLUKE工程師:0755-83999818
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